二手 PHILIPS / FEI Tecnai G2 F20 #293621526 待售

PHILIPS/FEI Tecnai G2 F20掃描電子顯微鏡（SEM）是一種先進的儀器，可以讓研究人員觀察到具有超大放大和細節的材料。這是通過用電子束而不是光轟擊樣品，創建表面的三維圖像來完成的。FEI Tecnai G2 F20使用場發射器作為其電子源，可以更精確地控制電子束的能量和大小。這項先進的技術使研究人員能夠專註於樣品中最精細的細節，這要歸功於光束光斑的大小低至5納米。飛利浦Tecnai G2 F20還提供了廣泛的分辨率,從基本成像到高分辨率成像,包括平面圖和傾斜模式。這允許用戶獲取他們的樣本的詳細圖像，從表面一直到原子級。Tecnai G2 F20具有交互式控制平臺,用戶可以在其中選擇各種設置來自定義每個映像會話。這些設置包括各種檢測器設置、放大倍率、光束電流，甚至圖像處理設置，以提高圖像質量。對於那些希望產生更高分辨率的研究人員,PHILIPS/FEI Tecnai G2 F20提供了許多附加功能。它包括一個先進的自動對準系統，可以對樣品進行快速校正，以盡量減少成像時的任何漂移，以及允許超低溫成像的冷凍級。簡而言之，FEI Tecnai G2 F20掃描電子顯微鏡是一種前沿儀器，為研究人員提供了他們以難以置信的細節和精度觀察材料所需的強大能力。由於它的場發射器、交互式控制平臺以及其他一系列的先進功能，G2 F20讓研究人員在原子層面上做出開創性的觀測。