二手 PHILIPS / FEI Tecnai G2 F30 Twin #293604851 待售
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ID: 293604851
Transmission Electron Microscope (TEM)
STEM System for FEG
Scanned imaging technique
FISCHIONE INSTRUMENTS 3000 HAADF Detector: 300 kV
Upgraded BRUKER Quantax EDS 400 Silicon drift detector
Detector: 30 mm Window
PC
EDX Spectroscopy technique
Low-dose exposure technique and performance test
Xplore3D (Tomography except STEM tomo)
GATAN UltraScan 4000 UHS Pre-Gif CCD
With U-type coating for ultrasensitivity
Power: 300 kV
GATAN Quantum GIF 963 Energy filter
With CCD: 2000 x 2000
Energy filter embedding
EFTEM EELS Module
CCD Camera embedding
Accessory cabinet 33U, 19''
TEM Scripting
Free lens control
TEM Auto-adjust
TEM Auto-gun
LCD Monitor, 20"
Anti-contaminator
Nitrogen cooled with Be blades for TEM
JUN-AIR Compressor: 115 V, 50/60 Hz
GE Digital energy LP Uninterruptible Power Supply (UPS).
PHILIPS/FEI Tecnai G2 F30 Twin是一種最先進的掃描電子顯微鏡（SEM），它將極端成像分辨率與多種選項相結合，以簡化SEM的使用。為了獲得最大的成像分辨率，FEI Tecnai G2 F30 Twin配備了透鏡內柱內反向散射電子（BSE）檢測器、Everhart-Thornley點檢測器、四重二次電子（SE）檢測器、中等能量反向散射（MEB）檢測器，以及比常規圖像定位方法顯示更快的頂端定位檢測器。PHILIPS Tecnai G2 F30 Twin還配備了一個多用途樣品架，可攜帶多達8個樣品，一個非磁性移液器，一個可自動檢測樣品參數的PixelPro樣品定向系統，一個雙傾斜支架，以及一系列附件，以便靈活使用。此外，采用這種SEM還可以實現永久性的冷凍轉移技術。Tecnai G2 F30 Twin還附帶集成的自動化圖像分析軟件。該軟件可用於分析復雜的SEM圖像，並具有圖像數學、圖像操作、手動和自動晶粒計數以及模式識別算法等特點。此外,PHILIPS/FEI Tecnai G2 F30 Twin配備了可調源發生器,使用戶能夠調整和監視光束參數,例如加速電壓和電流。這款可調源生成器還具有創新的控制算法，允許用戶輕松調整次毫秒的時間曝光，以捕捉通常會太快無法辨別的瞬態事件。FEI Tecnai G2 F30 Twin是當今市場上最強大的SEM之一。憑借其高度先進的技術和集成的自動化解決方案,G2 F30 Twin提供了令人難以置信的成像質量、粒子分析功能、使用靈活性和自動化圖像分析軟件。它是任何實驗室尋找可靠和直觀的SEM解決方案的完美工具。
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