二手 PHILIPS / FEI Tecnai G2 F30 Twin #9376693 待售
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ID: 9376693
Transmission Electron Microscope (TEM)
STEM System for FEG
Scanned imaging technique
FISCHIONE INSTRUMENTS 3000 HAADF Detector: 300 kV
Upgraded BRUKER Quantax EDS 400 Silicon drift detector
Detector: 30 mm Window
PC
EDX Spectroscopy technique
Low-dose exposure technique and performance test
Xplore3D (Tomography except STEM tomo)
GATAN UltraScan 4000 UHS Pre-Gif CCD
With U-type coating for ultrasensitivity
Power: 300 kV
GATAN Quantum GIF 963 Energy filter
With CCD: 2000 x 2000
Energy filter embedding
EFTEM EELS Module
CCD Camera embedding
Accessory cabinet 33U, 19''
TEM Scripting
Free lens control
TEM Auto-adjust
TEM Auto-gun
LCD Monitor, 20"
Anti-contaminator
Nitrogen cooled with Be blades for TEM
JUN-AIR Compressor: 115 V, 50/60 Hz
GE Digital energy LP Uninterruptible Power Supply (UPS).
PHILIPS/FEI Tecnai G2 F30 Twin是一種高性能場發射掃描電子顯微鏡（FE-SEM），用於研究和工業領域的納米級成像應用。它擁有先進的現場排放源，可為用戶提供高吞吐量和短周期時間，使其成為同級中功能最強大的儀器之一。G2 F30具有0.7nm的高分辨率和30.0毫米的工作距離,可提供從5 x到300000x的放大倍數。它為包括成像、粒度分析和成分分析在內的一系列應用提供了高、低真空模式。顯微鏡使用大量的探測器來捕捉來自不同感興趣區域的廣泛特征。其漸進掃描技術使得能夠用低成本的數碼攝像機獲取高分辨率圖像。該系統配備了多種自動化圖像處理功能，如MEBES層生產、數字分析、圖像縫制等。G2 F30具有完全集成的傾斜/旋轉級,允許以任何傾斜或旋轉角度精確定位樣品。該儀器包括一個用於數據準備和呈現的自動化軟件包，以及一系列可以根據用戶特定需求定制的硬件功能。G2 F30提供了高水平的擴展可用性,其直觀的用戶界面簡化了操作和自動示例識別。其掃描和成像模式的範圍為用戶提供卓越的成像質量和控制。這種顯微鏡還提供先進的光束能量控制系統和創新的軟件包，能夠完全控制樣品制備過程。這使得G2 F30成為納米級成像和研究的強大工具。
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