二手 PHILIPS / FEI Tecnai G2 F30 #293778924 待售
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ID: 293778924
Transmission Electron Microscope (TEM)
Source: FEG, 300 kV
TEM and STEM alignments at 300 kV
LORENTZ Lens
STEM detectors: DPC detectors, including all electronics and SW for alignments and acquisitions
Gatan Tridiem EELS spectrometer
Gatan UltraScan 1000XP
BRUKER EDX Side-entry detector system
Single-tilt holder
Double-tilt holder.
PHILIPS/FEI Tecnai F30是一種掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於在高度可靠、用戶友好的儀器中提供無與倫比的性能和多功能性。適合廣泛的科學和工業應用，融合了最先進的技術。FEI F30利用20kV、高分辨率LaB6野外發射槍（FEG）源生成其高分辨率、低對比度圖像。能量色散X射線（EDX）微觀分析能力允許對樣品進行快速準確的元素表征。飛利浦TECNAI F 30配備了工業標準的雙子座II電子柱和超低真空（ULV）變樣系統。它還配備了一個較小的30 µm火炮定位器，能夠在探測小到30 µm的特征時實現新的精度水平。飛利浦Tecnai F30的高級軟件套件包括用於快速圖像采集、高級圖像處理和數據分析的內置自動化工具。這增強了FEI TECNAI F 30進行高級材料調查的能力。對於樣本觀測，Tecnai F30采用了一個18英寸的Elmuirview單色顯示器。此顯示器提供出色的圖像清晰度和對比度,並且能夠顯示高達1,000,000倍的放大倍數。TECNAI F 30是為數不多的具有10nm精度EDX/X射線微分析系統的SEM之一。該系統在檢測和識別樣品上的化學結構方面非常有效，需要最少的光束時間和能量。PHILIPS F30 SEM是尋求強大、高性能、多功能性卓越的儀器的用戶的理想選擇。它具有高分辨率的圖像和廣泛的功能,使其成為研究人員和行業的寶貴工具。其復雜的自動化和易於使用的軟件通過減少樣品處理時間和提高效率,大大節省了時間和成本。
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