二手 PHILIPS / FEI Tecnai G2 Spirit Twin #293600943 待售

PHILIPS/FEI Tecnai G2 Spirit雙掃描電子顯微鏡（SEM）是一種先進的成像設備，旨在獲得詳細的微觀結構分析。它提供高分辨率和對比度成像以及自動圖像采集和圖像處理功能。該系統非常適合廣泛的應用，如半導體故障分析、納米結構分析、材料科學研究和材料工程。FEI Tecnai G2 Spirit Twin以配備野戰發射槍（FEG）的超高真空室為特色。該單元產生高度受控和可靠的電子束，能夠獲得分辨率高達1納米的圖像。FEG電子束允許極高的電流密度和放大倍數達到500,000x。SEM能夠在二次和反向散射電子（BSE）模式下成像樣品以及高分辨率Topografiner或3D斷層掃描成像。自動圖像采集系統可以對任何類型的樣品進行快速、準確的成像。Image Explorer控制和自動化軟件允許用戶同時輕松瀏覽多個圖像,同時提供功能強大的自動化分析方法。飛利浦Tecnai G2 Spirit Twin有一個樣本級，樣本面積大，傾斜範圍為+/-70°，允許任何方向成像。這臺機器有一個全自動的SEM準備站，可用於樣品調理。Tecnai G2 Spirit Twin工具具有先進的數字成像功能,包括對比度和強度控制,可同時測量掃描圖像的亮度和顏色。資產的快速處理速度以最小的延遲保證了高幀速率和交互功能。高級交互式圖像分析工具包括EDS/EDX、3D-XKR和3D-XRA。總體而言,PHILIPS/FEI Tecnai G2 Spirit Twin是一款功能強大、用途廣泛且易於使用的掃描電子顯微鏡,旨在方便進行微觀結構分析。該模型具有高分辨率成像、快速的圖像采集速度和一系列的圖像分析工具,非常適合廣泛的應用。