二手 PHILIPS / FEI Tecnai G2 TF20 #9361086 待售
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已售出
ID: 9361086
優質的: 2004
Transmission Electron Microscope (TEM)
With STEM mode
Voltage range: 40 to 200 kV
Bright field / Dark field
Secondary electron detector for STEM mode
Energy Dispersive Spectroscopy (EDS) detector
Chiller
FEG Microscope
Field emitter gun
Camera: CCD Orius
SC 1000 CCD
With A860 GIF 2000
Electron Energy Loss Spectroscopy (EELS)
Energy Filtered TEM (EFTEM)
Nanometer Pattern Generating System (NPGS)
FEG Replaced
Point resolution: 0.27 nm
Line resolution: 0.144 nm
STEM Resolution: 1.0 nm
Information limit: 0.18 nm
Energy spread: 0.7 eV
Maximum alpha-tilt angle with double-tilt holder: ±50°
Maximum diffraction angle: ±10°
Camera length: 35-2300 mm
EDS Solid angle: 0.13 srad
Standalone PC
Operating system: Windows XP
Voltage range: 80 to 300 kV
Power supply: 200kV
2004 vintage.
PHILIPS/FEI Tecnai G2 TF20是一種高性能、場發射掃描電子顯微鏡（FESEM）。它設計用於材料科學、活細胞成像和納米級成像。與其他FESEM相比,該設備具有卓越的分辨率和卓越的像差校正功能。高級「自動調諧」（Advanced Auto-Tune）功能可保持最佳梁條件,並確保工作會話長度的性能一致。G2 TF20配備高分辨率場發射槍（FEG）源，提供卓越的加速電壓穩定性和優異的高分辨率成像性能。該系統具有X射線探測器對材料進行微分析的能力，也能夠對生物樣品進行原位成像。G2 TF20具有獨特的完全集成單元,專為高精度樣品觀測而設計。傾斜放大多維結構照明（TM-MDIS）機為改進樣品表征和觀測提供了先進的成像解決方案。它提供了3D-White LightTM、DigitalKöhlerTM和多維結構化照明的獨特組合,提供了前所未有的3D信息級別。G2 TF20配備了30 nm分辨率的探測器工具,能夠詳細觀察樣品的最小特征。資產還提供高級成像技術,如SE-BF、SE-DF、SE-APRT、SE-LF和SE-BSE,以獲取有關樣品的3D信息。此外,G2 TF20還提供自動模式識別和特征分析功能,以有效地表征和量化表面特征和微觀結構組件。此模型提供強大的自動化和易用性,可大幅減少用戶時間並提高實驗室工作效率。G2 TF20是研究人員和工程師的終極掃描電子顯微鏡，他們需要高分辨率成像和各種創新的分析工具來表征樣品。
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