二手 PHILIPS / FEI Tecnai G2 #293792271 待售

PHILIPS/FEI Tecnai G2是一種最先進的掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於常規和高級材料表征。它有一個場發射電子槍（FEG），提供1至140 pA範圍內的極高束電流，允許更高的分辨率成像和更快的采集時間。G2包括一個用於查看和處理樣品的大腔室。三軸級可以通過電機速度高達15毫米/秒、樣品室傾斜± 60°的一系列運動來定位樣品。空氣軸承主軸允許樣品的高精度旋轉和傾斜。G2利用單色帶電耦合器件（CCD）相機進行成像。標準相機的有效分辨率高達2560 x 1920像素,可提供樣品表面的詳細視圖。加速度二次電子（SE）角檢測器（AD）和反向散射電子（BE）檢測器（BD）也分別可用於高對比度和單色模式的成像。G2配備了用於電流調制的肖特基場發射源（FES）。這樣可以實現高分辨率成像和分析功能。使用FES，用戶可以比傳統的SEM更精確地在納米級觀察樣品的微觀結構。電流可以微調，允許精確的SEM成像以及能量色散X射線光譜（EDS）用於元素和化學分析。FEI Tecnai G2是高分辨率成像和精確元素量化的通用儀器。憑借其高功率場發射源、高分辨率探測器和大型采樣室，為任何類型的材料表征提供了全面的可能性範圍。