二手 PHILIPS / FEI Tecnai G2 #9350685 待售

PHILIPS/FEI Tecnai G2是一種掃描電子顯微鏡，用於多種應用，包括材料科學、醫療器械生產和半導體制造。顯微鏡的基本技術是掃描電子束，當它在樣品上移動時，可以得到高分辨率和高景深的圖像。FEI Tecnai G2專門是一種可調節聚焦掃描透射電子顯微鏡（STEM），在一個儀器中獨特地結合了TEM和SEM顯微鏡的特點。飛利浦Tecnai G2配備了先進的數字成像設備，優化的捕獲和處理算法，光斑尺寸小至31.5 nm。這允許成像即使是最小的結構，具有高對比度，分辨率，細節和清晰度。另外，TecnaiG2具有可調的三維成像四極場STEM檢測器系統，通過抑制常規SEM成像模式下檢測到的二次電子，大大提高了對比度。可調場STEM單元還允許單粒子分析和元素圖。除了所有這些高功率成像功能外,PHILIPS/FEI Tecnai G2還專門為材料特性設計。它采用能量色散X射線（EDX）機，能夠對樣品進行靈敏度和分辨率較高的元素分析。結合高清EDS映射，用戶能夠以極好的精確度表征樣品的結構/組成和微觀結構特征。顯微鏡還具有用於樣品制備和樣品冷凍轉移的冷凍-超微切開階段，以及用於像差校正成像的快速傾斜技術。總之，FEI Tecnai G2掃描電子顯微鏡是一種先進的多功能儀器，用於實現各種樣品的高分辨率成像和材料表征。其可調焦點STEM技術以及EDX和EDS映射功能為用戶提供了無與倫比的細節檢查微觀結構特征的能力。