二手 PHILIPS / FEI Tecnai G2 #9399892 待售

PHILIPS/FEI Tecnai G2掃描電子顯微鏡（SEM）是納米級成像和分析樣品的強大工具。其廣泛的特性和功能使其成為各種應用的理想選擇。FEI Tecnai G2具有先進的室內環境,即使是最精細的樣品也可以在受控大氣中操作,而無需外部真空室。其高速電子光學器件提供高達1nm的圖像分辨率，其最先進的技術使得能夠觀察微小的樣品細節。集成的牛津能量色散X射線（EDX）光譜儀進一步增強了SEM的能力，使操作員能夠對樣品進行元素分析。EDS光譜儀配備了先進的數字成像技術，提供高對比度的圖像，允許精確的元素映射。可變壓力成像選項使樣品成像的放大倍數比傳統的高真空SEM更大。這一特性對有機樣品特別有用，因為它可以對其進行深入研究而不會對其造成損害。PHILIPS Tecnai G2提供了多種其他功能，包括先進的取樣、移動和定位操作機制；最大對比度的聚焦檢測；和玻璃碳塗層，用於在低壓光束上成像樣品。Tecnai G2還包括獨特的成像控制、分析和報告編寫軟件包,以增強這款多功能SEM的成像能力。總體而言，PHILIPS/FEI Tecnai G2掃描電子顯微鏡是一種強大的工具，可提供納米級樣品的成像和分析。其先進的成像和控制功能、可變壓力成像和軟件包使其成為各種納米結構表征應用程序的理想選擇。