二手 PHILIPS / FEI Tecnai TF20 #293670066 待售

PHILIPS/FEI Tecnai TF20是一種多功能掃描電子顯微鏡（SEM），旨在捕捉微觀結構的詳細圖像。顯微鏡利用肖特基場發射槍發射的粒子束來測量、分析和可視化從孤立粒子到大結構的樣本。FEI Tecnai TF20具有鎢絲,可產生200-300 um光斑大小的中能30 keV電子束。該槍還能產生1-30 keV的低能束和1-10mm的束直徑。此外，顯微鏡還采用了數字成像系統和16位彩色CCD檢測器，該檢測器經過優化，能夠以高放大倍率捕捉快速圖像。PHILIPS TECNAI TF-20利用像差校正光學器件從被調查樣品中收集信號。它配備了一個用於產生彩色過濾圖像的單色儀和一個專門的舞臺來進行全局和局部標本分析。標本可以從廣泛的標本環境類型進行研究，包括空氣、氣體和液基環境。PHILIPS Tecnai TF20還配備了鏡頭內探測器系統，可以測量散射在光圈上的電子。這使用戶能夠從幾個納米尺寸範圍內獲取SE圖像，並測量電子束在非常短的範圍內的吸收和散射。此外，顯微鏡使用磁透鏡系統測量樣品的磁性，使用戶能夠研究磁域的分布和濃度。FEI TECNAI TF-20用途廣泛,為各種應用程序提供了高多功能性。顯微鏡非常適合對非導電樣品以及具有廣泛導電特性的樣品進行成像。此外，顯微鏡非常適合對生物樣本進行成像，準備用於能量色散X射線分析的樣品，並進行斷層掃描和納米CT成像。TECNAI TF-20因能夠實現高分辨率圖像以及測量樣品的尺寸、形狀、電性能和組成而受到贊譽。其最先進的SEM技術，加上先進的成像和分析能力，使其成為廣泛研究、工程和醫學應用的理想儀器。