二手 PHILIPS / FEI Tecnai TF20 #293748941 待售

PHILIPS/FEI Tecnai TF20是一種多功能掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於微結構材料的高分辨率成像、分析和組成分析。它是一個最先進的SEM系統，具有大量的選擇強大的分析儀器。儀器裝有磁透鏡20千伏，塗有氧化物的鎢絲，用於昏暗明場成像。它裝有Everhart-Thornley反向散射探測器，可以同時收集二次電子和反向散射電子，從而改善納米尺度特征之間的對比度。FEI Tecnai TF20具有高精度、自動的樣品傳輸設備,能夠精確對準樣品,並實現平行漂移控制。它還提供了一個大的傾斜和旋轉采樣階段，它允許樣品觀察在廣泛的角度範圍。這對於精細微結構的成像和分析特別有益，是納米結構成像、元素映射和分析掃描的理想選擇。PHILIPS TECNAI TF-20提供了一套先進的分析儀器,使其成為材料分析的強大工具。能量色散光譜（EDS）系統使用everhart-thornley 60通道探測器來識別和量化標本的元素組成。另外，該裝置采用了jEOL屈服型EELS電子能量損失光譜儀，能夠對材料進行高分辨率的核心能級光譜儀。為了進行電荷檢測，FEI TECNAI TF-20安裝了ViewPoint 5-D Scanning Charged Detector，提供完整的電荷電平信息。該探測器與SEM的高放大能力相結合，用於捕獲表面和地下信息。PHILIPS/FEI TECNAI TF-20提供了廣泛的其他功能，包括Evercool冷凍標本的制備以及單葉加熱和冷卻階段，以減少熱沖擊和在成像過程中進一步保護標本。自動功能（如漂移補償和自動對焦）有助於保持一致的結果並提高成像速度。除分析能力外，TECNAI TF-20還提供一系列軟件功能。它與廣泛選擇的圖像分析和測量軟件兼容，可以與3D立體建模和分析軟件配合使用，允許用戶交互測量和分析3D數據集。總體而言,Tecnai TF20是一種功能強大的掃描電子顯微鏡,它提供了廣泛的特性和材料分析功能。PHILIPS Tecnai TF20具有出色的分析能力,是進行材料分析和表征的研究和商業實驗室的理想選擇。