二手 PHILIPS / FEI Tecnai TF30 #9217554 待售
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已售出
ID: 9217554
Transmission Electron Microscope (TEM), parts machine
Equipped with:
FEG System (Gun and outer vessel)
STEM With HAADF detector
Chamber: ODP
EMO System
Water rack
Power rack
TEM Rack
STEM Rack
PC With dual monitor (5-Port lan card, monitor driver)
HT Tank with HT cable
Compustage
Dark current at 300 kV
Missing parts:
Column: TMP (controller)
Right / Left hand panel (USB, track ball)
Crane, hoist cover and leads
PCI6110 STEM Board in PC
FEG Tip (old tip mounted)
Chiller for objective lens
Main chiller
EDS System
Single tilt holder
Low back ground DT holder
Service tool box
Bake out tool.
PHILIPS/FEI Tecnai TF30是一種掃描電子顯微鏡，設計用於進行生物學、材料科學和微電子學的多種分析研究。它采用雙透鏡系統和多種技術，如能量色散X射線光譜（EDS），能夠產生高分辨率圖像。FEI Tecnai TF30提供的光學顯微鏡工作距離可達330毫米，視野可達78毫米。它具有高達500,000X的放大倍數。它具有柱內能量色散X射線光譜儀（EDS），可用於分析納米和微量尺度上樣品的組成和其他性質。此外，還為快速成像和表面地形研究提供了高性能二次電子探測器。該顯微鏡還具有結合成像、元素映射和半定量分析的能力。PHILIPS Tecnai TF30支持多種樣品處理技術。對於生物樣品，自動化樣品階段提供了可變溫度控制和低真空環境。它還容納了一個自動取樣加載系統。對於材料研究，完全鉸接的電動/空氣軸承樣品級為動態研究提供了最大的準確性。此外，還提供了自動圖像分析和樣本掃描，以獲得準確和可重復的數據。總體而言，Tecnai TF30是一種可靠且高度先進的電子顯微鏡，能夠進行各種分析研究。它具有復雜的雙透鏡成像系統和柱內能量色散X射線光譜儀。它提供自動采樣階段，包括溫度控制和低真空環境，以及完全鉸接的電動/空氣軸承采樣階段。此外，它還提供圖像分析、樣本掃描和半定量分析，以獲得高度準確和可重復的數據。
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