二手 PHILIPS / FEI TF30 #293821941 待售

PHILIPS/FEI TF30是一種掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於生成標本的高分辨率圖像。該系統能夠提供納米檢測能力和超高分辨率成像。樣品的結構細節是通過用電子束照亮樣品而顯露出來的。FEI TF30配備了場發射槍（FEG），產生高度聚焦的一級電子束與標本相互作用。初級電子和多個反向散射電子之間的相互作用產生樣品的三維圖像。PHILIPS TF30具有一系列量化功能,圖像對比度和分辨率高達30 nm。該系統能夠產生二次電子、反向散射電子和用於元素標記的X射線輻射。它還能夠產生一個反向散射的電子Csi檢測器，用於定量的無損分析。TF30設計方便用戶,並帶有自動采樣階段。這允許對大面積樣品進行自動掃描成像。FEI成像軟件允許實時捕獲高分辨率圖像、分析負面和正面汙名圖像以及圖像分析。樣品裝在一個環境控制室內，在真空模式下操作時保持樣品不受汙染。PHILIPS/FEI TF30具有一系列高放大倍率的功能,能夠將對象放大到100,000Xs。FEI TF30是一個很好的選擇對於那些尋找一個可靠的SEM產生高分辨率圖像的樣品。它具有多種量化功能和成像功能，非常適合科學和商業應用。這個功能強大的系統適合一些最激烈的應用和項目。