二手 PHILIPS / FEI TF30 #293830548 待售

PHILIPS/FEI TF30是一種掃描電子顯微鏡（SEM），利用二次散射和反向散射電子成像產生點亮樣品表面的高分辨率圖像。它能夠提供工作距離可達5mm、視野可達~ 20mm的亞納米分辨率圖像。這種通用儀器設計用於故障分析、材料表征、半導體計量和生物成像等應用。FEI TF30采用先進的鏡頭內掃描技術,實現了最大景深的優化SEM圖像。這樣可確保以最小分散視差或像差偽影清晰顯示點亮的樣品。該設備還包括一個能夠同時分析光和電子圖像的樣品分析系統（SAS），以及材料側向力顯微鏡（LFM）、X射線元件映射（XRF）和光譜成像（SI）等先進分析技術。PHILIPS TF30還提供了一個可選的Autotune功能,可自動調諧和重新校準SEM的操作參數,包括加速電壓、檢測器響應能力和光束漂移補償。這允許用戶在示例分析應用程序之間快速切換,而無需手動調整這些設置。極強的TF30電機單元允許分析即使是最復雜的樣品具有高度的準確性和可重復性。這臺機器包括先進的減振功能，以減少振動引起的不穩定，以及高速二次電子探測器，以確保信號對噪聲的最佳水平，即使是最具挑戰性的SEM應用。PHILIPS/FEI TF30還配備了全方位的配件，包括電動舞臺、冷凍和液氮舞臺、無線控制以及圖像縫合、動畫渲染等各種通用應用。FEI TF30是一種先進的SEM工具,適用於各種應用程序,提供出色的分辨率和可重復性,以及自動調諧系統,以實現最高的效率。