二手 PHILIPS / FEI TF30 #9384150 待售

PHILIPS/FEI TF30是一種高性能掃描電子顯微鏡（SEM）。在SEM中，電子束用於創建樣品的圖像，以便洞察其組成和結構。FEI TF30具有多種功能,使其成為市場上更先進的SEM之一。飛利浦TF30 SEM的主要特點包括可變壓力選項。這允許在高真空和低真空環境中成像樣品。TF30能夠在1 x 10-9毫巴到5 x 10-1毫巴的範圍內成像非導電樣品和導電樣品，而無需液體塗層。低壓成像對於研究空氣敏感試樣也很有用，因為所有的非真空部件都有鋁密封，而不是彈性體Orings。這樣就可以在不影響樣品最佳狀態的情況下將樣品一致地轉移到腔室。除了能夠對空氣敏感樣品成像外,PHILIPS/FEI TF30還可以根據所使用的應用程序,以相當大範圍的加速電壓成像。最低設定為100伏，最高設定為30,000伏。此寬範圍允許用戶以高分辨率對大小樣本進行成像。FEI TF30中的示例階段是一個獨特的功能。它包括一個電動晶圓交換階段和一個手動采樣階段。這樣可以快速交換樣品,並且非常穩定。它能夠容納多達4英寸的晶圓，並且可以旋轉多達70°。舞臺的傾斜範圍也可以從-68度調整到+70度。PHILIPS TF30 SEM的高分辨率成像能力通過其SE2探測器得以實現。SE2探測器是一種固態探測器，可以檢測樣品中的電子，並將其轉換成高分辨率圖像。SE2探測器由一個由31個半收斂弧組成的陣列組成，能夠凍結電子束運動並提供清晰的圖像。綜上所述，TF30掃描電子顯微鏡提供了許多特征，非常適合在低真空和高真空條件下成像樣品。它的SE2探測器配備了制作標本的高分辨率圖像，其樣本級機動化並提供穩定性。低壓和高壓的設置也使得飛利浦/FEI TF30各種應用的絕佳選擇。