二手 PHILIPS / FEI TF30ST #9378650 待售
網址複製成功！
單擊可縮放
ID: 9378650
Transmission Electron Microscope (TEM)
Gun: 300 kV
Outer vessel
ODP + P1, P2 Gauge
Power rack
TEM Rack
STEM Rack
Missing parts:
Column
(2) Holders
HT Tank
Pump
System PC.
PHILIPS/FEI TF30ST是一種高分辨率掃描電子顯微鏡（SEM），由於其最先進的設計提供卓越的分辨率和圖像質量。它提供了先進的能量色散X射線光譜，用於元素分析和10-9 torr的真空水平。FEI TF30ST具有野外發射槍（FEG）,可確保最大分辨率的對比度、更快的掃描和更好的圖像質量。它還包括一個高分辨率的Everhart-Thornley探測器，允許更快、更高質量的成像和光譜結果。SEM還配備了大面積的Everhart-Thornley探測器進行大規模研究。PHILIPS TF30ST也是可定制的SEM,允許用戶根據其特定SEM需求定制系統。它帶有一些可調的SEM參數，如加速度電壓、噴槍漂移電壓、掃描速度和樣品偏差。顯微鏡還配備了電動級和自動換樣器，提供了較高的生產率。顯微鏡具有獨特的3D Tomo模式，它允許用戶通過組合多個掃描結果來生成樣本的三維圖像。這種3D重建技術提供了對高分辨率圖像的獨特見解，可用於材料科學、納米技術和生物學的研究。SEM還配備了反向散射探測器、冷凍支架、加熱級、電子束光刻、X射線高分辨率相機等多種配件，用於高分辨率成像和分析。這些特征為研究人員提供了對其樣本的深入表征。綜上所述，TF30ST是一種功能強大的掃描電子顯微鏡，為用戶提供了各種各樣的分析工具和圖像分辨率，使其成為包括材料科學、納米技術、生物學和其他科學在內的廣泛領域的理想選擇。其可自定義的參數、3D斷層掃描模式和各種其他特征使其成為詳細的樣本表征的絕佳工具。
還沒有評論