二手 PHILIPS / FEI Titan 80-300 #9220220 待售

PHILIPS/FEI Titan 80-300是一種裝有場發射槍（FEG）的掃描電子顯微鏡（SEM）。這種顯微鏡是分析納米技術、材料科學、半導體研究等一系列領域樣品的有力工具。FEI Titan 80-300利用了最先進的FEG電子源，具有比其他常規SEM源穩定五倍的鎢絲。這使得顯微鏡能夠產生低電子劑量的亞納米分辨率圖像，使其成為需要最小樣品損傷的樣品分析的理想選擇。顯微鏡提供了廣闊的視野，能夠掃描多達800微米的自由空間。它還包括同軸和環境探測器，包括反向散射、二次電子和X射線探測器。顯微鏡還帶有先進的圖像分析軟件，讓研究人員能夠精確分析復雜的結構。PHILIPS Titan 80-300的柔韌性使得它可以很容易地配置為多種成像模式，包括先進的STEM和SEM技術如雙束成像、靜電成像和能量過濾成像。除了成像能力外，泰坦80-300還包括真空兼容性高達5 x 10-5 mbar的樣品室、用於元素分析的EDS系統以及用於測量樣品表面粗糙度和地形的散射方法。總體而言,PHILIPS/FEI Titan 80-300提供高級成像功能,具有亞納米分辨率和多種成像模式,同時保持樣品完整性。這個功能強大的SEM是用於表征和分析各種材料的通用工具，使其成為研究人員的寶貴資產。