二手 PHILIPS / FEI Titan 80-300 #9241048 待售
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ID: 9241048
優質的: 2010
Probe corrected Scanning / Transmission Electron Microscope (STEM)
2010 vintage.
PHILIPS/FEI Titan 80-300是一種高分辨率掃描電子顯微鏡(SEM),設計用於材料科學、生命科學和納米技術的先進成像應用。該儀器具有超低真空設計,允許更低的電子束能量,從而提供更高的空間分辨率和改進的對比度。雙束能力結合單色電子成像,使FEI Titan 80-300成為納米結構和半導體器件的理想成像工具。飛利浦泰坦80-300有一個舞臺,可以在x和y方向上達到200毫米的運動。此階段允許自動化陣列和更高的吞吐量成像。顯微鏡配備了一系列探測器,允許對各種類型的數據進行成像,如陰極發光(CL)、二次電子(SE)、反向散射電子(BSE)成像儀。所有這些探測器都經過冷卻,以確保顯微鏡的穩定運行。泰坦80-300上使用的電子源是一種LaB6燈絲,能夠產生10納米到30納米不等的電流輸出。電子束在磁場中加速,產生1 keV至30 keV的電子能量。這使操作員能夠微調系統以優化分辨率和對比度。PHILIPS/FEI Titan 80-300具有可調節的工作距離和自動聚焦功能,允許操作員輕松訪問不同的樣品。此外,顯微鏡還配備了5軸電動級,能夠執行Z軸對準和樣品傾斜等作業。FEI Titan 80-300的高級高分辨率成像系統提供一流的性能和靈活性。利用改進的暗對比度圖像功能,用戶無需圖像處理技術即可以最精細的細節觀察樣品。低加速度電壓和光束電流提供低總劑量,最小化樣品損壞和降解.PHILIPS Titan 80-300還具有先進的自動化軟件包。這包括自動化的樣品加載和定位、作業回憶、圖像縫合以及圖像采集和分析的自動化。這使得儀器非常適合在樣品需要多個圖像覆蓋更大區域的操作。此外,Titan 80-300與目前聯網的實驗室系統完全集成,允許方便安全的數據傳輸和圖像存儲。這使得系統成為多用戶研究環境的絕佳工具。綜上所述,PHILIPS/FEI Titan 80-300是一款功能強大的工具,具有非凡的成像能力,讓研究人員獲得無與倫比的對比度和分辨率的高分辨率圖像。該儀器具有一系列自動化功能和用戶友好界面,為要求最苛刻的應用程序提供了完美的成像平臺。
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