二手 PHILIPS / FEI Titan G2 Cubed 80-300 #293813596 待售
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ID: 293813596
優質的: 2008
Transmission Electron Microscope (TEM)
Electron emitter: Schottky FEG Gun
Fischione Model 3000 ADF detector
Gatan BF/DF detector
EDAX Si (Li) detector
CEOS Cetcor image-side spherical aberration corrector
Wien type monochromator
Cameras: TVIPS XF416(R) on-axis CMOS camera (4k x 4k), US1000 (2kx2k) at Gatan Tridiem GIF
Materials ran: Metals, Ceramics, Organic cells
2008 vintage.
PHILIPS/FEI Titan G2立方80-300是一款前沿掃描電子顯微鏡（SEM），融合先進技術，為材料科學、生命科學和納米技術領域的各種應用提供高分辨率成像和分析能力。這種最先進的儀器旨在為研究人員和科學家提供一個強有力的工具，用於研究各種樣品的微觀結構和組成，並具有非凡的精確度和細節。FEI Titan G2 Cubed 80-300的關鍵特征之一是其高性能電子光學系統，其中包括一個超穩定場發射電子源，能夠產生能量在80 eV到300 keV之間的電子束。這種廣泛的光束能量允許用戶針對不同類型的樣品優化成像和分析條件，使他們能夠在圖像中實現優越的對比度、分辨率和景深。該顯微鏡具有先進的像差校正透射電子顯微鏡（TEM）功能，為研究各種材料的納米尺度特征和結構提供了前所未有的分辨率和成像質量。集成到PHILIPS Titan G2立方80-300中的像差校正器顯著降低了球面和色差,從而提高了圖像的清晰度,提高了對比度和高放大倍率的清晰度。此外，該儀器還配備了精密的掃描系統，能夠進行精確和快速的樣本處理，使用戶能夠獲得高質量的圖像，並以卓越的效率進行詳細分析。Titan G2 Cubed 80-300還包括一種創新的用於元素分析的能量色散X射線光譜儀（EDS），可用於根據特征X射線發射來識別和量化樣品的化學成分。PHILIPS/FEI Titan G2 Cubed 80-300除了具有成像和分析功能外,還提供一系列先進的技術和功能,用於現場實驗和數據采集。顯微鏡可配備各種探測器，如二次電子探測器、反向散射電子探測器、STEM探測器，提供多用途成像模式，增強儀器的多功能性，用於不同的研究應用。而且，FEI Titan G2 Cubed 80-300還與先進的數據處理和分析軟件兼容，使用戶能夠從其成像和光譜數據中提取有價值的信息和見解。軟件套件包括圖像重建、粒子分析、元素映射和3D可視化工具，便於對復雜樣本結構進行全面的表征和解釋。總體而言，飛利浦Titan G2立方80-300掃描電子顯微鏡是一個最先進的平臺，用於各種科學學科的高分辨率成像和分析。其先進的能力、無與倫比的性能和多功能性，使得它成為研究人員和科學家尋求推動顯微鏡的界限，向微觀和納米世界揭示新見解的不可或缺的工具。
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