二手 PHILIPS / FEI Titan III #293652166 待售

PHILIPS / FEI Titan III
ID: 293652166
Transmission Electron Microscope (TEM) Double corrected Monochromated.
PHILIPS/FEI Titan III是一種用於研究和工業環境的高分辨率掃描電子顯微鏡。它用於生成精確的圖像和測量材料的結構和組成。FEI Titan III顯微鏡配備了高性能電子柱,可實現0.4nm的分辨率,150 nm的聚焦深度,高達200 kV的加速電壓。飛利浦泰坦III利用了廣泛的探測器,包括二次電子探測器(SED)、反向散射電子探測器(BSD)和發射電子探測器(TED)。SED提供高分辨率圖像,最大放大倍數可達250,000倍,而BSD則提高了表面對比度及其原子分辨率。此外,TED探測器可以通過生成有關材料厚度、存在不規則性或可能存在於表面之下的材料結構位置的信息來揭示隱藏特征。土衛三可用於研究廣泛的材料,包括金屬、陶瓷和聚合物。其高速場發射槍和冷卻設備提供了樣品和電子束之間增強的相互作用,而其高真空系統則允許獲得準確信息所必需的清潔環境。PHILIPS/FEI Titan III還配備了先進的軟件,可實現圖像的自動化操作和分析,並為光束成形、圖像處理和標本導航提供選項。該顯微鏡還包括供熱樣品階段的通風裝置、用於制造惰性大氣的氣體噴射機,以及用於高效樣品制備的自動化階段控制。綜上所述,FEI Titan III是一種高分辨率掃描電子顯微鏡,可用於多種研究和工業應用。它能夠產生分辨率高達0.4 nm的圖像和測量,而其高級功能提供了進一步的功能。PHILIPS Titan III憑借其通用的探測器、自動化的操作和人性化的軟件,可以用來調查各種材料的結構、組成和性質。
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