二手 PHILIPS / FEI Titan X-Twin 80-300 #9119022 待售

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ID: 9119022
晶圓大小: 12"
Scanning transmission electron microscope, (TEM), 12" 300 kV FEG Modular column design (3) Condenser lens system Gatan imaging filter Vibration damping platform External scan switch TEM Scripting software Burker Quantax 400 EDA system Haskris chiller Field cancelling system Gatan Ultrascan 2K camera Dark field STEM (DF) Fischione high angle annular dark field (HAADF) Bright field / dark field detector (BF/DF) Gatan Quantum GIF 965 energy filter Dual EELS mode STEM-EELS-EDS TEM/STEM 3D Tomography 2007 vintage.
PHILIPS/FEI泰坦X-Twin 80-300是世界上功能最強大的掃描電子顯微鏡(SEMs)之一。它具有兩個獨立的電子光學和兩個獨立的衍射系統,使其成為實驗室分析的寶貴工具。FEI Titan X-Twin 80-300具有全自動操作,允許用戶快速獲取所需的圖像和數據。這種顯微鏡能夠以各種放大倍數工作,從亞納米到數百毫米,並光學集成生成的圖像,用於3D分析程序。它還包含一個15極C2冷凝器,有助於改善圖像對比度和優越的樣品照明。在硬件方面,PHILIPS Titan X-Twin 80-300采用集成的加熱級,適用於EBSD(電子反向散射衍射)和EDS(能量色散X射線光譜),允許定性和定量分析。它還裝有一個有用的MMCapsule(金屬膜膠囊)電子室,有助於保護細膩的部件在運行過程中免受靜電損壞。該級通過保護電纜連接到電子控制和數據采集站。為確保高質量的圖像捕捉,Titan X-Twin 80-300具有可變孔徑電平檢測器、精度0.5納米、定義明確的最高500納米焦點(經驗分辨率為1納米)和動態0.3-1000V範圍。PHILIPS/FEI Titan X-Twin 80-300還提供了廣泛的不同成像模式,如觀測、投影、反向散射和衍射成像。此外,顯微鏡還通過各種用戶友好的工具幫助減少樣品處理和圖像處理時間,這些工具包括圖像和光譜提取、自動制圖以及自動漂移、傾斜和鉆孔觀測。總體而言,FEI Titan X-Twin 80-300是一種功能強大且用途廣泛的掃描電子顯微鏡,設計用於在廣泛的實驗室環境中進行可靠和準確的操作。從出色的成像捕獲和數據提取到先進的控制和樣品分析,它的特點相結合,使其成為現代科學實驗室的絕佳資產。
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