二手 PHILIPS / FEI V600CE #293809777 待售
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ID: 293809777
優質的: 2010
Focused Ion Beam (FIB) system
Integrated Optical Microscope (IR OM)
NanoChemix configured gases:
XeF2
H2O
O2
Cl2
W
TMCTS
(2) Gas Injection Systems (GIS):
Probe Trim (PT)
Backside circuit
2010 vintage.
PHILIPS/FEI V600CE是一種能夠產生納米級分辨率的高分辨率掃描電子顯微鏡（SEM）。它配備了利用電子的先進成像能力，並允許對材料進行詳細檢查。FEI V600CE掃描電子顯微鏡能夠用其柱內探測器、高分辨率肖特基場發射槍和強大的低噪聲、超快信號放大器產生高分辨率成像。肖特基場發射槍提供了停留時間短的高壓電子，並允許以高速成像，電子束的擴散最小化。柱內檢測器自動檢測、放大和數字化來自電子束與樣品相互作用的信號，並提供屏幕上的圖像。PHILIPS V600CE具有先進的能量色散X射線光譜，可以在納米水平上進行元素分析。光子計數系統能夠進行無損X射線分析，這有助於識別元素和/或材料。V600CE有一個自動取樣器，可以連續使用。它具有高分辨率顯微照片、高放大成像、3D地形圖像采集、現場分辨率合成和微紋理成像等功能。PHILIPS/FEI V600CE非常適合需要納米或亞納米級分辨率的研究人員。它的成像能力可用於檢查原生狀態和納米級的各種材料。它也是冶金分析的有用工具，因為其先進的能量色散X射線光譜法非常適合表征金屬表面存在的元素。
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