二手 PHILIPS / FEI Versa 3D #293670274 待售
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ID: 293670274
優質的: 2010
Scanning Electron Microscope (SEM)
Detectors: ETD, ICE, STEM
Electron column
Schottky NG FEG SEM
KV Range: 350 V-30 keV
E-Beam deceleration
E-Beam fast blanker
Nanomanipulator with rotation
Plasma cleaner
Cryo-cold trap
IR Camera
Navigation camera
Low vacuum and high vacuum modes
HT ION Column: 65 nA
Stage: Hot / Cold
Scios holder
Gas injection system: Pt, Carbon, IEE
Microscope control:
Auto slice
Auto TEM
No eazy lift exchange
No OXFORD EDS Detector
No OXFORD EBSD Detector
No cold trap
Operating system: Windows 7
2010 vintage.
PHILIPS/FEI Versa 3D是一款精密、高性能的掃描電子顯微鏡(SEM),為廣泛的科學和工業應用提供先進的成像能力和分析功能。這款尖端儀器由著名電子顯微鏡技術領導者Thermo Fisher Scientific設計制造。FEI Versa 3D的核心是提供高亮度和穩定性的場發射電子源,使高分辨率成像具有卓越的信噪比。顯微鏡的電子光學系統針對最大光束電流和光斑尺寸控制進行了優化,使用戶能夠在一系列放大倍數上實現卓越的成像性能。PHILIPS Versa 3D具有一個通用的舞臺,可以在多個維度上進行樣本處理,包括X、Y、Z轉換和傾斜功能。此高級階段設計有助於精確的樣本定位和方便的導航,以完成成像和分析任務。此外,顯微鏡還配備了先進的自動化功能,如自動光束對準、對焦和柱頭化,從而簡化了操作並提高了工作流效率。Versa 3D的主要優勢之一是其3D成像功能,它使用戶能夠獲取詳細的地形信息並可視化三個維度的結構。這是通過先進的成像模式實現的,如立體成像、斷層掃描和切片和視圖技術,這些技術提供了對標本形態和內部結構的洞察,具有無與倫比的清晰度和深度。除了高分辨率成像之外,PHILIPS/FEI Versa 3D還提供了一系列分析功能,使其成為材料表征和研究的通用工具。顯微鏡配有能量色散X射線光譜(EDS)探測器進行元素分析和映射,以及電子反向散射衍射(EBSD)進行晶體學分析。這些分析技術使用戶能夠高精度地識別樣品中的化學成分、晶體結構和相分布。而且,FEI Versa 3D配備了用於數據采集、處理和分析的高級軟件,使用戶可以從他們的成像和分析實驗中產生有意義的見解和定量結果。直觀的用戶界面和可定制的工作流程使研究人員能夠根據自己的具體需求定制顯微鏡設置,並為自己的研究目標優化數據采集。總體而言,PHILIPS Versa 3D掃描電子顯微鏡是一個最先進的平臺,用於對各種材料和樣品進行高分辨率成像、3D可視化和分析表征。Versa 3D具有先進的成像能力、多用途的舞臺設計和集成的分析功能,是從事材料科學、納米技術、生命科學和半導體行業等領域的研究人員、科學家和工程師的強大工具。
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