二手 PHILIPS / FEI XL 20 #9243138 待售

PHILIPS/FEI XL 20是一種掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於對材料表面、粒子和痕量分析、形態和元素分析進行成像和分析。它有一個野外發射槍（FEG），提高其電子束的性能和精度，使其非常適合工業和材料表征的應用。該設備配有鏡頭內二次電子探測器，可進行詳細的地形成像。它還配備了反向散射電子探測器（BSD）和燈絲模擬器，在成像方面具有更高的精度。該系統針對低真空操作進行了優化，提供了各種樣本類型的訪問和高分辨率分析。FEI XL 20可以在x-y方向上達到2 nm的分辨率，在z方向上達到4 nm的分辨率。它利用了205毫米的加速電壓，意味著它可以在低能和高能兩種模式下運行，使得它適合采樣各種材料。該裝置還有一個鏡頭內SE檢測器，可提供對一系列樣品類型的高靈敏度成像/分析以及各種工作電壓。最後，該機具有柔性真空操作，使得樣品能夠在超高真空（UHV）或低真空環境下進行分析。這提供了一系列實驗選擇，從詳細的顯微鏡和表面計量到粒子分析和光譜學。綜上所述，PHILIPS XL20是一種多功能掃描電子顯微鏡，非常適合高分辨率成像、粒子和跡線分析、元素表征等應用。憑借其靈活的真空操作以及令人印象深刻的檢測器和分析選項範圍，它是廣泛的工業和研究應用的絕佳選擇。