二手 PHILIPS / FEI XL 20 #9260733 待售
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ID: 9260733
優質的: 2000
Scanning Electron Microscope (SEM)
Operating system: Windows 3.11
Microanalysis window damaged
2000 vintage.
PHILIPS/FEI XL 20是為廣泛應用而設計的掃描電子顯微鏡(SEM)。它在SE模式下的最大分辨率為0.3nm,令人印象深刻的景深高達8000微米。FEI XL 20具有一個場發射源,可使低壓成像最多30kV次,從而實現對較軟和敏感樣品的可視化。飛利浦XL20采用創新的1000x1000像素Everhart-Thornley二次電子探測器,能夠產生高對比度的圖像並進行深入的元素分析。XL20的樣品加載是自動化的,用於樣品的快速安裝和交換.它有各種各樣的樣品持有者,包括小顆粒、顛簸和更長的結構。XL 20是一款多功能、高端的儀器。它可以配置為運行各種實驗,應用範圍從材料表征和故障分析到微觀分析和納米級成像。其低熱膨脹真空室和蔡司UIS ME通用STEM鏡頭提供了卓越的成像能力。它還有一個獨特的自動化接口,可用於即時在SEM和TEM模式之間切換,調整幅度最小。此外,它的高電流發射器允許更高功率的研究,不同的電流可用於操作。SEM還可以編程為執行多模式和擴展成像協議。此外,PHILIPS XL 20配備了提供卓越實時成像能力的數字圖像處理器,允許用戶快速放大和縮小樣本,調整對比度和亮度水平,甚至重播錄制的視頻序列。最後,它帶有觸摸屏控件的大型顯示器顯示提供了直觀的用戶體驗,以及高度可定制的用戶界面的奢華。總體而言,PHILIPS/FEI XL20提供了功能和性能的完美結合,非常適合在多個工業和科學學科中執行成像和分析任務。
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