二手 PHILIPS / FEI XL 30 (ESEM) #293824979 待售

PHILIPS/FEI XL 30是一種獨特的高性能掃描電子顯微鏡（SEM），非常適合高級研究應用。此SEM生成各種材料的詳細、高分辨率3D圖像。除了具有高度精確的成像能力外，這款顯微鏡還提供了一系列其他特性和功能，使其成為科學家和研究人員的頂級選擇。FEI XL 30以場發射槍為電子源。這把槍配備了專門設計的電子柱，用於更精確地調節電子束，以及優越的空間和能量分辨率。這允許更精確和詳細地可視化表面特征，如納米大小的粒子和結構，以及亞細胞特征。同時,它的雙軸像差校正器顯著改善了成像效果,具有更清晰、更精確的表面特征以及更好的景深。顯微鏡利用數字信號處理器、可編程電壓電源和Centris EDX（能量色散X射線）探測器實現超高分辨率圖像。獨特的EDX檢測器還可以進行化學元素分析。在這一切之上，有一個顯微鏡傾斜階段，可以讓標本傾斜到30度。這會產生傾斜的角度,顯示在常規成像過程中不可見的曲面。飛利浦強大的成像能力XL30使其成為廣泛研究任務的理想選擇，包括材料研究、半導體研究和納米技術。其最先進的特點和一流的性能讓用戶能夠以極大的細節和精確度來觀察和分析材料。PHILIPS/FEI XL30具有卓越的成像能力,是從事高級研究的任何實驗室的必備產品。