二手 PHILIPS / FEI XL 30 (ESEM) #9378140 待售

FEI XL30是一種掃描電子顯微鏡（SEM），提供納米結構和納米材料的高分辨率成像。該儀器配備了PHILIPS XL30場發射槍（FEG）和PHILIPS/FEI線性SE探測器，用於能量色散X射線分析（EDX）。與同類中的任何其他SEM相比,XL30能夠獲得最高質量的圖像。高分辨率圖像是由於FEG的低電子發射率和低熱發射率。這些特性允許低劑量操作和更高的放大倍率產生低噪聲的高對比度圖像。此外,EDX系統使用戶能夠識別樣本的元素組成。用戶可以輕松獲取各種放大倍數可達600,000倍的圖像。可以從PC控制臺更改工作距離、傾斜和對比度,而無需進行任何硬件調整。圖像可以在亮度、反向散射等各種模式下獲取。XL30中的車輛引導系統大大簡化了采樣階段的操作和對準。抽樣階段有幾個版本，涵蓋了廣泛的應用和抽樣類型。該XL30具有一個獨特的「轉到」位置,該位置可自動將樣本階段引導到最近的位置。這大大減少了樣本在X、Y和Z軸上的對齊時間。「Go To」功能還允許自動進行樣本空間操作和遍歷,以掃描樣本的廣闊區域或查找特定的興趣點。總體而言,FEI XL30是一款功能非常強大的SEM,具有出色的成像功能和廣泛的掃描選項,適用於研究和工業應用。憑借其獨特的「Go To」功能和擴展的樣品階段，XL30可以為用戶提供納米結構和納米材料的高分辨率圖像。