二手 PHILIPS / FEI XL 30 FEG #9177754 待售

ID: 9177754
Scanning electron microscope (SEM) EDS Included Currently crated and warehoused.
PHILIPS/FEI XL 30 FEG是一款功能強大、用途廣泛的掃描電子顯微鏡(SEM)。這種先進的儀器具有野外發射槍(FEG)電子源,允許高水平的反射率,以及優越的成像能力。這種最先進的SEM非常適合廣泛的應用,包括納米技術開發、高級缺陷分析和故障診斷。FEI XL 30 FEG具有堅固、自我穩定的加速器和額外的組件,可確保一致的運行。即使經過長時間的操作,此功能也有助於保持卓越的性能。SEM還包括一個真空設備,該設備可提供廣泛的壓力範圍,並可在延長的工作時間內進行維護。這臺掃描電子顯微鏡還配備了高分辨率的STEM探測器,可以讓用戶在原子水平上觀察復雜的結構特征。它利用高速數字圖像處理系統來顯示具有多種顏色選項的詳細圖像。該單元還具有實時數據分析功能。此外,PHILIPS XL 30 FEG還采用了用戶友好、直觀的用戶界面。此界面允許用戶瀏覽各種功能、調整設置以及將數據保存到便攜式驅動器或其他外部內存設備。這種用戶友好的設計使操作變得簡單,即使對於沒有經驗的用戶也是如此。XL 30 FEG還具有令人印象深刻的成像功能。它在各種各樣的電壓和孔徑設置上運行,允許用戶為其特定應用選擇最佳設置。這臺機器還配備了帶有自動化控制的內部舞臺,允許精確的標本定位和精確調整視野。總體而言,PHILIPS/FEI XL 30 FEG是一款高度先進的掃描電子顯微鏡,提供卓越的性能、多功能性和易用性。它還具有令人印象深刻的成像能力選擇,使其適合廣泛的科學和工業應用。
還沒有評論