二手 PHILIPS / FEI XL 30 FEG #9184962 待售
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ID: 9184962
FEG Scanning Electron Microscope (FEG SEM)
FEG Schottky field emitter
Adjustable accelerating voltage: 200 V to 30 kV
Resolution:
2.0 nm at 30 kV
5.0 nm at 1 kV
Detectors:
Everhard-Thornley SE/BSE (ETD)
Solid-state BSED
Manually-controlled specimen stage
IGP and Diffusion pump vacuum system
Windows 3.11 PC upgraded to Windows 2000 PC
Polaroid camera
Analytical system:
EDAX Inc Phoenix/Genesis EDX system
Liquid N2 cooled Si(Li) EDX detector 10mm²
Resolution: Mn Kα - 129 eV
SATW Window for detection
EBSD system:
HAMAMATSU Video camera
HKL Channel 5 software package for EBSD data acquisition and analysis.
PHILIPS/FEI XL 30 FEG是一種掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於產生樣品表面的高分辨率圖像。它利用聚焦的電子束生成樣品圖像，提供強大的分析能力。FEI XL 30 FEG使用場發射槍（FEG）產生電子束。FEG是SEM中使用的最先進的電子源，能夠實現極高的放大倍率和優越的分辨率。光束以光柵模式掃描在樣品上，圖像通過檢測從樣品反向散射或發射的電子而形成。PHILIPS XL 30 FEG配備了一系列提高性能的功能，包括一個可容納500 mm x 700 mm標本的大腔室、用於低真空的雙LN/Ar槍、一個超高真空（UHV）腔室和一個自動化的樣品轉移系統。它還具有柱內能量濾波器，允許用戶選擇光束的能量以達到所需的對比度水平。XL 30 FEG還包括廣泛的探測器，包括四種類型的SE（二次電子）探測器、兩種類型的BS（反向散射電子）探測器和一種能量色散X射線光譜儀（EDS）。這一系列的檢測系統提供了廣泛的分析能力，例如元素分析和組成。PHILIPS/FEI XL 30 FEG使用基於Windows的GUI控制。這允許用戶調整成像分辨率、真空水平和真空周期的定時等參數。顯微鏡還具有自動化自動化功能，如自動聚焦，使操作更簡單。FEI XL 30 FEG是一個功能強大的SEM，旨在滿足高級分析應用的需求。它具有出色的分辨率、自動化功能和廣泛的分析功能,是研究各種材料的可靠且通用的工具。
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