二手 PHILIPS / FEI XL 30 SFEG #293741764 待售

PHILIPS/FEI XL 30 SFEG是一種高分辨率掃描電子顯微鏡，設計用於研究和工業應用。這種裝置的工作原理是用聚焦的電子束照亮樣品，以產生樣品的圖像。其最終分辨率為1.2nm。顯微鏡還具有廣泛的特點，使其適合多種應用，如生物成像、納米材料研究和半導體失效分析。顯微鏡有四種不同的電子源類型可供選擇，在樣品要求上提供了靈活性。肖特基場發射電子源針對最高分辨率成像進行了優化，而常規的鎢絲源則為各種材料提供了堅固的照明。FEI XL 30S FEG還有一個LaB6的燈絲源，它提供了更高的亮度和電子電流加上改進的穩定性。冷場發射源在較低的加速電壓下提供較高的亮度,用於成像高度敏感的材料。PHILIPS XL30 S-FEG具有許多不同的成像技術。它允許在高真空和低真空中成像，以及低高壓成像。它還配備了傾斜和表面探測器，用於大角度和亞納米分辨率下的成像。其他功能包括反向散射成像、二次電子成像和高壓氣體成像。除了成像應用，這種顯微鏡還可以用於電子束光刻和樣品操縱等眾多其他功能。顯微鏡具有很高的穩定性特征，可確保長期準確的樣品定位，對相對強度分布進行自動分析，以及顯微鏡對準系統，以最大程度地減少位置誤差。FEI XL 30 SFEG因其令人印象深刻的一系列特性而成為研究和工業應用的寶貴工具。從高分辨率成像到樣本處理,此設備為用戶提供了許多功能,這些功能可以輕松優化以應對各種挑戰。XL 30 S-FEG的穩定性和準確性是任何需要高質量圖像分辨率和電子束控制的應用的理想解決方案。