二手 PHILIPS / FEI XL 30 SFEG #9255918 待售

PHILIPS/FEI XL 30 SFEG是一種掃描電子顯微鏡（SEM），非常適合一般和研究應用。FEI XL 30S FEG采用高分辨率肖特基野外發射槍（FEG）進行精確詳細的成像。它具有自動化的樣品交換設備，便於快速、方便的樣品處理和準備。該配置允許顯著透鏡成像和卓越的電子顯微鏡性能。飛利浦XL30 S-FEG利用先進的超高分辨率（UHR）電子光學系統和能量色散光譜（EDS）單元進行元素分析。該機器具有4k x 4k高性能探測器,可用於分析超小型對象。該工具提供精細的聚焦深度，大視野，以及納米細節的優越成像。飛利浦XL 30 S-FEG具有廣泛的標本測量能力。它使用戶能夠以納米精度測量高分辨率圖像、納米顆粒和薄膜。該資產還提供能量過濾成像（EFI），以提高圖像中特定特征的可見性。XL 30 SFEG利用真空室和渦輪分子泵浦模型維持低真空環境，以進行最佳成像和分析。這種低真空條件可防止偽影形成並確保高分辨率圖像。顯微鏡有一個環境室選項，使用戶能夠在各種大氣條件下測量樣品。FEI XL 30 S-FEG由軟件和圖形用戶界面（GUI）供電，允許用戶控制顯微鏡操作和自動化例行任務。它提供了訪問用於成像和分析的強大分析工具的權限。該軟件非常用戶友好、直截了當，讓用戶在沒有太多先驗知識的情況下快速執行高級功能。最後，飛利浦XL 30 SFEG是一種功能強大、用途廣泛的掃描電子顯微鏡，非常適合一般和研究應用。它為用戶提供了納米級材料分析和薄膜檢查等應用的出色成像能力。功能、附件、軟件和用戶友好界面的綜合包使其成為各種電子成像和分析應用的絕佳儀器。