二手 PHILIPS / FEI XL 30 SFEG #9390243 待售

PHILIPS/FEI XL 30 SFEG是一種先進的掃描電子顯微鏡（SEM），能夠成像各種樣品。它利用低電壓、高電壓和可變壓力掃描模式，使它能以前所未有的細節可視化範圍廣泛的樣品。FEI XL 30S FEG是現代材料科學家最先進的顯微鏡。PHILIPS XL30 S-FEG基於低真空場發射電子槍（FEG）,增加了使用可變壓力掃描的能力,有效加速電壓範圍為2-30kV。它具有高達1.25 nm的空間分辨率,並且對圖像具有較短的脈沖持續時間,並具有最小的充電偽影。FEG電子源還允許電子流入，可以量身定制，以實現多種成像模式，如反向散射成像、二次電子成像和同時光譜成像。此外,PHILIPS XL 30S FEG還配備了ZWN Automation,該功能允許集成SEM、STEM和BIC等多種顯微鏡儀器進行全面研究。FEI XL 30 S-FEG上的OxfordAZtec EDS光譜儀非常適合元素分析。利用其快速、自動化的映射功能,MAPS分析可達到0.1m。它的元素範圍從硼（B）到鈾（U），能夠提供高精度的定量數據。XL30 S-FEG在具有應用特定探測器的大觸摸屏界面上具有自動化功能。這些探測器管理光束電流、信號數字化和圖像捕獲,從而可以處理導致高對比度、低噪聲圖像的圖像參數。此外,許多後處理過濾器可用於增強對比度、模糊、銳化和著色。總體而言,PHILIPS/FEI XL30 S-FEG對於需要高級高性能SEM的用戶來說是一個絕佳的選擇。它具有廣泛的成像功能、增強的成像參數和元素分析功能,是研究和工業應用的絕佳選擇。