二手 PHILIPS / FEI XL 30 Sirion #293614803 待售
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ID: 293614803
FEG Scanning Electron Microscope (FEG SEM)
EDAX
ETD and BSE Detector
Chiller
Magnification: Up to 800,000x with 2 nm
Resolution:
5 nm at 10 kV or higher
5 nm at 1 kV
Electron source:
SCHOTTKY Thermionic field emission electron gun
Gun configuration control
Beam acceleration voltage range: 0.2-30 kV
Beam current range: 1 pA - 25 nA
Specimen stage:
Eucentric goniometer: 4-Axis (X, Y, Z and R)
Motorized stage with full manual override
Tilt range: -15° to 60°
Specimen chamber diameter: 284 mm
Vacuum:
Automatic vacuum interlock
Diffusion pump (Lower chamber)
(2) Ion getter pumps (Gun chamber)
Gun chamber: 2x10^-7 Pa
Specimen chamber: 2x10^-5 Pa
Vacuum regained: <5 minutes
Scanning system:
Survey mode
Scan mode
Scan rotation
Magnification rage: 20x - 800,000x
Analytical capability:
Secondary Electron (SE) detector
Back Scattered Electron (BSE) detector
Energy Dispersive X-Ray Spectrometer (EDS)
Manuals included
Voltage range: 1.0 kV - 30.0 kV.
PHILIPS/FEI XL 30 Sirion是一種功能強大的掃描電子顯微鏡（SEM），能夠為科學家和研究人員提供高分辨率的成像和分析。Sirion的最大空間分辨率為1.2nm，允許對即使是最優秀的微觀結構特征也能檢測到的材料進行高級成像和分析。Sirion配備了改進了光學和更高加速電壓的新型電子光學設備。這使得它可以用於各種應用，例如成像和分析納米級材料，以及作為檢查微電路的工具。天狼星還包括一個具有波長色散X射線（WDS）探測器的能量色散X射線光譜（EDX）系統。該單元允許對樣品進行元素分析，可用於執行準確完整的組成。Sirion可用於多種成像和分析技術，如反向散射電子成像（BSE）、二次電子成像（SEI）、平面圖成像和探測以及低真空成像。Sirion還支持先進的成像技術，如用於無失真圖像和自動數據采集的光束移位圖像校正機（BSICS）。Sirion還具有一套樣品處理功能，包括高精度樣品級和真空進給通量。這樣可以在真空狀態下對樣品進行對齊和處理，從而無需在空氣中進行樣品制備。Sirion還包括一個樣品交換工具，它可以在樣品之間輕松切換而不會破壞真空。總體而言，FEI XL 30 Sirion是一款先進的掃描電子顯微鏡資產，提供卓越的成像分辨率、元素分析能力和自動化數據采集。它是科學和工業應用的理想工具,提供各種成像功能和用戶友好的功能。
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