二手 PHILIPS / FEI XL 30 Sirion #293624757 待售

ID: 293624757
Scanning Electron Microscope (SEM) Detectors: SE BSE OXFORD EDS.
PHILIPS/FEI XL 30 Sirion是一種掃描電子顯微鏡(SEM),旨在在一系列應用和研究領域提供出色的成像、分析和樣品制備結果。它的SEM柱采用了Thermo Fisher Scientific設計的電子源,延長了工作壽命,提高了性能。FEI XL 30 Sirion還配備了先進的電子光學設備,可提供比傳統SEM更詳細的高分辨率成像功能。飛利浦XL 30 Sirion配備了能夠進行多種多功能樣品分析的能力,包括化學、結構和元素分析。其先進的電子光學系統具有從初始狀態到納米結構水平取樣的能力。這允許用戶一口氣查看和測量樣本的元素內容及其拓撲。該儀器還可以用來瞄準樣品中的某些元素,確定它們之間的聯系。XL 30 Sirion包括一個高級功能集,其中包括一個更高的放大倍率範圍(最高590 kV),用於增強成像和分析功能,高分辨率成像,具有最大10 μ A的探測電流,並具有可變的電流調整。此設備還提供易於操作的用戶友好觸摸屏顯示屏,以及用於故障排除的機器診斷和錯誤記錄。Sirion還通過自動化的自動化高級樣品制備技術與典型的SEM不同。這些技術有助於樣品準備,以便更快速、更精確地進行成像和分析,從而減少用戶錯誤的數量。它旨在容納範圍廣泛的樣本尺寸,這對於不同樣本量的研究人員或工業用戶來說是理想的選擇。PHILIPS/FEI XL 30 Sirion也具有廣泛的觀看、測量和分析能力。這些包括自動化的刀柄和傾斜調整、自動散光校正、高分辨率成像、三維成像和特征識別、成分映射和分析、元素組成和深度輪廓分析、等值線分辨率和輪廓、多探測器和同步成像以及自動漂移校正。
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