二手 PHILIPS / FEI XL 30 Sirion #293644232 待售

ID: 293644232
FEG Scanning Electron Microscope (FEG SEM).
PHILIPS/FEI XL 30 Sirion是一種高性能掃描電子顯微鏡(SEM),用於廣泛的研究和診斷應用。它配備了先進的功能,以達到快速、準確的效果。FEI XL 30 Sirion具有多種探測能力,包括二次電子、反向散射電子和反射電子。它還具有用於提高分辨率的30千伏的高基極電壓,以及用於快速采集數據的高相幹電子源。單獨的反向散射探測器能夠獲得表面地形和元素分析。PHILIPS XL 30 Sirion的軸向運動為1200毫米,具有亞微米可重復性,用於在腔內精確放置標本。它還具有高放大倍率的鏡頭,工作距離為5.5毫米,使各種樣本量和形狀成為可能。大量的標本持有人可供收藏,以容納各種標本類型。XL 30 Sirion使用直觀的用戶界面易於操作,它具有自動化功能,能夠快速對齊和接受樣品。各種成像工具可用於提供寶貴的數據可視化,包括:四維斷層掃描、雙光束成像和EDS。PHILIPS/FEI XL 30 Sirion非常適合需要快速操作、準確結果和高級成像功能的應用。其可靠的性能和高效的操作使其成為各種研究和診斷應用的理想選擇。
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