二手 PHILIPS / FEI XL 30 Sirion #9108125 待售

PHILIPS / FEI XL 30 Sirion
ID: 9108125
Scanning electron microscope, 8"
飛利浦/FEI XL 30 Sirion是一種掃描電子顯微鏡(SEM),為材料科學、工業質量控制和生命科學等學科提供最新的先進表面成像和分析。這款多功能SEM結合了高分辨率和高通量的創新技術以及可靠、易於使用的設計。它獨特的設計允許擴展景深成像,而它的自動化階段提供了獲取大面積而不中斷的能力。FEI XL 30 Sirion產生的圖像清晰度和細節前所未有,橫向分辨率高達0.9 nm,成像分辨率高達70 nm。它具有一系列成像模式,如反向散射成像、下一代EDS系統(用於化學分析)、低真空成像以及用於對比度和紋理分析的高角度環形暗場(HAADF)。它還具有用於進程一次性成像的數字視頻功能。飛利浦XL 30 Sirion具有獨特的自動加速控制系統(AAC),可確保最佳和可重復的加速性能。這樣可以確保收集的數據保持一致。其先進的SE和BSE探測器可以從5-200 keV收集,噪聲水平低,靈敏度高。XL 30 Sirion有一個自動化的階段,允許在不中斷的情況下進行更大面積的收購。它可以在三個維度上移動,最多200 mm X 200 mm,同時也為延伸區域連續成像提供對角運動。其全自動圖像配準技術精確對齊在多個視圖字段中獲取的圖像,以提供樣本或表面積的概述。PHILIPS/FEI XL 30 Sirion是一款用途廣泛且可靠的SEM,可為用戶提供前所未有的清晰度、細節和結果一致性。它的創新特點和擴展的景深成像使其成為在材料科學、工業質量控制和生命科學領域應用的理想選擇。
還沒有評論