二手 PHILIPS / FEI XL 30 Sirion #9145946 待售

PHILIPS/FEI XL 30 Sirion是一種掃描電子顯微鏡（SEM），用於分析表面地形、元素組成和化學結構以及粒徑。適用於廣泛的樣品，包括非導電和自發光材料。顯微鏡裝有大場冷場發射槍，提供高達6.2毫米直徑的視野和極高的元素分辨率。光束電流可調至15 pA,以便在最寬的樣品類型範圍內進行最佳成像。透鏡內二次電子檢測器提供高靈敏度和優異的信噪比。FEI XL 30 Sirion具有高分辨率的移動級驅動器，允許精確控制樣品位置。它被安置在一個溫度控制和壓力控制的室內。該腔室可容納一系列標本持有者，允許分析各種材料，包括有機化合物。顯微鏡還擁有先進的自動化導航系統，允許用戶在成像模式之間輕松切換。導航可自動收集各種圖像,包括具有分辨率變化的傾斜和放大圖像。自動功能可用於檢查表面地形、元素組成、化學結構和粒徑。飛利浦XL 30 Sirion也可用於3D重建、微成像、深層元素分析。3 D重建模式允許三維形式的圖像自動收集。這實時重建了樣品表面的詳細視圖。微成像模式使用高分辨率和放大成像來生成小樣本的詳細圖像。最後，深層元素分析模式允許將樣品中的元素識別到原子水平。XL 30 Sirion是一款先進的SEM,具有出色的成像能力。它的大視野和鏡頭內二次電子探測器允許快速準確的分析，而它的自動化導航系統則允許用戶輕松地在成像模式之間切換。此通用系統適用於一系列材料,提供高清成像、3D重建和深層元素分析。