二手 PHILIPS / FEI XL 30 Sirion #9404297 待售
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ID: 9404297
FEG Scanning Electron Microscope (FEG SEM)
SDD EDS
OEM Skins
Backscatter detector
FGSU
Pump
PC
Operating system: Windows XP.
PHILIPS/FEI XL 30 Sirion是一款掃描電子顯微鏡(SEM),提供先進的成像體驗。該SEM具有一個粒子光學模塊和一個場發射槍(FEG)電子源和廣泛的高端成像附件。FEI XL 30 Sirion因其卓越的圖像質量和分辨率,被認為是SEM成像和分析應用的高端儀器。飛利浦XL 30 Sirion具有可變壓力(VP)電子柱和獨特的「胡椒鍋」離子透鏡。這種創新的設計允許更穩定的電子束和改進的表面靈敏度,即使在超高放大倍率。該成像設備采用UltraVac,這是一種多模式真空系統,能夠在超高分辨率和超低分辨率環境中工作,並提供多種成像模式為了利用VP列和UltraVac單元的新功能,XL 30 Sirion提供了多種成像模式,包括SE、BSE和CSE。PHILIPS/FEI XL 30 Sirion也能夠產生極高的晶體學分辨率。這是由於結合了高分辨率(HR)成像模式和新的UltraVac計算機而實現的。HR模式的最大光斑大小為0.7 nm,分辨率高達1 nm。UltraVac工具有助於最小化光束失真,並使HR成像成為可能。除了先進的成像能力外,FEI XL 30 Sirion還提供多種分析能力。這些包括能量色散X射線(EDX)光譜、電子反向散射衍射(EBSD)和能量過濾成像(EFI)。EDX、EBSD和EFI功能允許用戶識別材料成分並了解晶體學結構和方向。飛利浦XL 30 Sirion將最新的技術與用戶友好的操作相結合,使用方便。其強大的設計和可靠的性能使其成為研究、工業和教育用途的理想選擇。XL 30 Sirion是一款功能強大的掃描電子顯微鏡,提供卓越的成像體驗,使高級分析應用成為可能。
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