二手 PHILIPS / FEI XL 30 #192152 待售

PHILIPS/FEI XL 30是一種掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於提供樣品的最高分辨率成像。FEI XL 30能夠獲取和分析0.2埃範圍內的圖像，確保即使是最小的細節也能顯露出來。它的透鏡內系統允許在與大範圍電子束能量結合的情況下進行大範圍的樣品-表面相互作用。這些電子束通過三種方式與樣品相互作用：二次電子、反向散射電子和透射電子。二次電子源自樣品表面，包含表面地形信息。當高質量、高速電子與樣品和固體物質碰撞並包含晶體學和元素信息時產生反向散射電子。強穿透透射電子不受樣品影響，用於探測地下現象。變壓SEM技術和變壓探測器進一步增強了儀器的探測能力。可變壓力SEM可以顯著降低甚至消除生物材料、聚合物甚至塑料樣品中的樣品充電和偽影形成，用於成像和分析，而無需導電塗層。可變壓力探測器能夠分析從柱的長度產生和偏轉到通道電子探測器的能量選擇電子。作為一種分析工具，飛利浦XL30能夠提供SEM圖像，放大到800,000倍，分辨率為0.2埃，元素信息使用能量色散光譜（EDS）映射，線掃描。除了SEM成像之外，PHILIPS/FEI XL30還可以用於加熱、冷卻和切入樣品，允許共焦和3D分析。這些能力使XL30成為在分子水平上分析和表征各種材料的有力工具。XL 30設計為以鏡頭內系統提供最高解析度的成像性能，以提供與樣品的廣泛交互，可變壓力SEM能力以減少或消除標本充電，以及EDS映射和線掃描等詳細的分析能力。這使得FEI XL30任何希望深入了解樣品組成和結構的實驗室的寶貴工具。