二手 PHILIPS / FEI XL 30 #293606873 待售

ID: 293606873
Scanning Electron Microscope (SEM).
PHILIPS/FEI XL 30是一款高性能掃描電子顯微鏡(SEM),旨在在廣泛的研究和工業應用中提供卓越的成像和分析能力。這種先進的設備是同類設備中最先進的,它提供了優越的圖像分辨率和對比度,以及比前代設備更高的探測電流和更快的掃描速率。這個可靠的平臺旨在滿足各種行業的苛刻要求,包括半導體、醫療設備和冶金應用。該XVL30采用高分辨率野外發射槍,實現了最佳成像性能和高精度分析。它包括一個先進的二次電子探測器,它提供精確的成像和粒徑測量。集成的低真空掃描系統允許使用廣泛的環境條件,包括高溫、濕度,甚至化學氣相沈積過程。標本級可以在三個軸(X、Y、Z)中移動,保證對感興趣區域的精確控制。舞臺還可以旋轉360度,允許多個視角進行增強成像和分析。該階段還包括一個可選的樣品滑移單元,它允許在階段和自動更換標本之間快速和方便地轉移標本。FEI XL 30還配備了先進的自動化成像套件。這種經過專業開發的成像軟件使用戶能夠以高精度生成高分辨率圖像,同時控制各種參數,包括亮度、放大倍率、對比度、景深和掃描間距。PHILIPS XL30還具有直觀的用戶界面,並且與SEM特定的功能兼容,例如自動能量色散X射線分析(EDX)和電子束光刻(EBL)。盡管XL30設計緊湊,但它是一臺功能強大且可靠的SEM機器,可為各種應用提供卓越的成像和分析功能。其先進的成像工具套件以及用戶友好的界面使XL 30成為尋求高端成像和分析性能的用戶的理想選擇。
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