二手 PHILIPS / FEI XL 30 #293610605 待售

PHILIPS/FEI XL 30是一款高性能掃描電子顯微鏡（SEM），旨在提供卓越的分辨率和分析。可用於研究種類繁多的樣品，放大倍率範圍高達160,000x。FEI XL 30配備了三個電子探測器，使用戶可以分析包括組成、地形、元素分布在內的一系列標本數據。集成的數字RGB顯微鏡相機允許對樣本進行全數字成像和觀察，軟件套件包含了強大的分析功能範圍。多功能PHILIPS XL30由五個主要部件組成，共同打造了一個用戶友好的分析設備。電子槍由一根加熱的燈絲組成，它向樣品發送一束細小的電子束，這是由電磁透鏡系統指揮的。樣品安裝在樣品支架中，與顯微鏡組件的其他部分電隔離。然後，電子探測器收集並顯示從光束到顯示器的數據。XL30可以在低能量或高能量模式下操作,具體取決於所進行的分析類型。在低能模式下，該單元提供對表面結構和組成的高分辨率成像，以及元素分布。在高能模式下，機器可以用來獲取表面地形和散裝材料特性的信息。SEM工具配備了樣品更換器，使樣品加載和掃描過程自動化，並配備了現代化的用戶界面，使用戶能夠快速創建和訪問分析所需的軟件設置。XL 30還具有全面的成像和分析功能,為用戶提供全面的功能。集成的ImageJ軟件允許在亮場和暗場模式下進行高級成像。此外，FEI XL30擁有一系列強大的分析工具，可用於分析標本數據，如EDS（能量色散X射線光譜）、WDS（波長色散X射線光譜）、SEM斷層掃描和自動化數字圖像分析。總體而言,PHILIPS XL 30是一種高級和高性能的SEM資產,它為研究人員提供了廣泛的成像工具和分析功能。它非常方便用戶,並提供了一個完整的解決方案來可視化和分析各種示例類型。