二手 PHILIPS / FEI XL 30 #293618038 待售

ID: 293618038
Scanning Electron Microscope (SEM).
PHILIPS/FEI XL 30是一種掃描電子顯微鏡(SEM),旨在讓研究人員和科學家在微觀層面上收集信息和數據。它利用各種功能和功能生成高分辨率圖像,並允許對對象曲面進行擴展研究。該單元由多種元件組成,包括電子源、掃描控制器、電磁透鏡、樣品制備室、數字成像裝置和真空系統。電子源產生一束電子束,然後由磁透鏡以各種方式操縱,由掃描控制器控制。低壓掃描電子顯微鏡允許對分辨率低至納米的樣品表面進行詳細成像。集成微操縱器可用於定位發射電子,用於精確的表面檢查。真空系統保持了機器的內部環境,因為真空對於系統的正確運行至關重要。對於標本的制備,顯微鏡提供集成到標本室的加熱和冷卻階段。這樣可以靈活地研究樣品,包括各種溫度和壓力。數字成像設備能夠捕捉微觀和宏觀層面的圖像。FEI XL 30適用於一系列材料和表面,包括金屬、陶瓷、塑料和生物標本。單位體積小,重量輕,用途廣泛,操作方便。它允許研究人員和科學家在收集關於表面拓撲的詳細信息的同時,準確可靠地分析小樣本。
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