二手 PHILIPS / FEI XL 30 #293619811 待售

PHILIPS/FEI XL 30是一種掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於亞微米級的成像和分析。它具有能量色散X射線光譜（EDS）系統和具有像差校正的野外發射槍。FEI XL 30提供三種成像模式：二次和反向散射電子成像（BSE）或低壓成像模式：使用較低的kV來提高高放大倍率下的性能。PHILIPS XL30可以達到500,000x的放大倍數,分辨率為0.750 nm,壓力窗口為0.35-420PA,腔室大小為.5 x.6mm。探測器系統由雙峰探測器、二次電子探測器和能量色散X射線（EDX）探測器組成。雙峰探測器包括一個彎曲的非反射探測器、一個同步脈沖探測器和一個開流點探測器。二次電子探測器測量發射的電子，並配有一個環形狹縫，允許更精細的可調路徑分辨率。EDX探測器能夠進行元素分析，並配有一個反卡特網格和一個鋁制X射線窗。FEI XL30能對真空和真空樣品進行分析.采用樣品室引入樣品，控制環境條件，減少水分和汙染物對樣品的影響。加熱階段可用於將樣品加熱至最高3000 °C。PHILIPS/FEI XL 30的用戶界面可以編程為控制所有顯微鏡設置並存儲所有設置的默認值。用戶可以存儲和檢索每個映像模式的完整配置文件。使用者也有多個選項可用於控制視角、放大倍率和光束形狀。XL30提供了一系列的分析可能性，包括電子顯微圖、表征、表面地形、元素分析和光譜、故障分析和隧道。其性能通過像差校正（CAC）和kV還原技術得到進一步提高。系統的高穩定性和低噪聲地板允許用戶進行精確的測量，而它的準確性和一致性給出了結果的可重復性。