二手 PHILIPS / FEI XL 30 #293636316 待售
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PHILIPS/FEI XL 30是一種掃描電子顯微鏡（SEM），用於納米級成像和分析。用於高分辨率分析材料和生物樣品的表面地形。它具有一個自動級,掃描面積為200 x 350 mm,以及一個快速掃描檢測器,用於快速成像。掃描速率高達500 Hz,最大分辨率為1 nm/pixel。它還配備了低真空模式，用於需要50 Pa以下的成像樣品，FEI XL 30具有許多先進的成像能力。它配有電子束感應電流檢測器，測量材料的電性能。它還有一個能量色散X射線分析（EDX）系統，能夠對樣品表面進行元素分析。此外,它還包括用於樣品表征的明場和暗場探測器.除了成像功能外,PHILIPS XL30還提供許多高級分析功能。它配備了可用於測量樣品層厚度的反向散射檢測器。元素分析和結構分析相結合的能力提供了樣品表面的完整圖景。它還具有先進的軸上電子全息技術，可以測量材料中的應力和應變。而且，XL 30有一個電荷中和器，可以防止樣品充電造成圖像失真。這提供了準確的成像和分析，即使樣品容易充電。它還具有用於低溫下高分辨率成像的集成低溫級和用於詳細化學分析的光譜檢測器。總體而言，PHILIPS/FEI XL30是一種功能強大的掃描電子顯微鏡，具有一系列先進的成像和分析能力。它非常適合對材料和生物樣本進行表征，為研究人員提供無與倫比的洞察力和理解力。
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