二手 PHILIPS / FEI XL 30 #293643959 待售

PHILIPS/FEI XL 30是一種掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於對廣泛的材料和結構進行成像和分析。這種多功能顯微鏡非常適合低放大倍率和高放大率成像，可用於原位和環境掃描電子顯微鏡應用。FEI XL 30結合了野外發射槍（FEG）技術，以達到最大性能和穩定性。這種FEG源允許電子束電流下降到2pA，從而能夠在低壓掃描電子模式下成像。高電流FEG源還允許在更高放大倍率下提高掃描速度和更高的圖像分辨率。PHILIPS XL30還具有可容納450毫米大小的樣品的大腔室容量，以及廣泛的樣品取向。這使得顯微鏡甚至可以用來分析最具挑戰性的樣品。此外，XL30還包括一個獨特的Autoload III標本加載系統和一系列成像探測器，包括一個閃爍探測器，用於優化高度對比標本的成像，以及一個用於成像非導電材料的反向散射探測器。XL 30也可以在環境SEM（ESEM）模式下操作，對無法用常規SEM成像的樣品進行成像和分析。在ESEM模式下運行時，PHILIPS XL 30保持清潔、穩定的真空環境，同時允許樣品保持在氣態大氣下。這允許在液體和細胞培養物中成像細膩的生物樣品，如標本。最後,PHILIPS/FEI XL30配備了一系列高性能分析軟件,例如TelED,這是一個自動圖像分析包,專為圖像分析和交互式3 D可視化而設計。該軟件能夠測量諸如面積、周長、線形和體積等特征,以及集成的能量色散光譜（EDS）功能。最後，FEI XL30是一種掃描電子顯微鏡，用於對各種材料和結構進行成像和分析。PHILIPS/FEI XL 30是一系列SEM和ESEM應用的理想工具。