二手 PHILIPS / FEI XL 30 #293757338 待售
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ID: 293757338
Scanning Electron Microscope (SEM)
Resolution: 3.5 nm @30 kV or >25 nm @1 kV
Voltage: 0.2 – 30 kV
Detectors:
SE
Back-scatter detector
Specimen chamber CCD camera
Stage:
X, Y Travel: 25 mm x 32 mm
Rotation: 360°
Tilt: -15° to 75°
Compucentric rotation
Working distance: 10 mm
Vacuum system:
EDWARDS TMP
EDWARDS Pre-vacuum rotary pump.
PHILIPS/FEI XL 30掃描電子顯微鏡是一種高度先進的電子元件和材料分析工具。顯微鏡裝有數字成像和二次電子,可用於各種樣品尺寸,包括金屬和陶瓷材料。顯微鏡圍繞一個長底座和一根垂直柱而建,可以用五個不同的目標來設置,給予更高的分辨率和更高的放大能力。它既配備了內置數碼相機,又配備了二次電子探測器,將圖像的分辨率提升到遠遠優於光學顯微鏡所能達到的水平。這些功能結合了廣泛的附件和應用程序,使FEI XL 30成為一系列高級分析任務的理想工具。顯微鏡是用於半導體表征、檢測和故障分析、電路板分析和材料表征的高度先進的工具。它功能強大,提供微觀結構、特征和內部構圖的高分辨率圖像。再者,顯微鏡配備了廣泛的配件,包括一個槍組件、氣泵和全真空系統、一個冷凍轉移單元,以及一系列的樣品持有者。這些附件使PHILIPS XL30成為各種高級分析和測試任務(如數字成像、化學分析、薄膜厚度測量和缺陷表征等)的理想工具。XL30設計時要牢記性能和易操作性。它允許快速、準確的測量和分析,其用戶友好的界面使其設置、操作和解釋數據變得簡單。顯微鏡也極易維護升級,從而保證了長期可靠的操作。總體而言,XL 30掃描電子顯微鏡是分析電子元件和材料的絕佳工具。它具有最先進的功能,其先進的成像、分析和附件允許執行一系列高級任務。顯微鏡還易於設置和使用,使其成為一個理想的工具,為一系列用戶。
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