二手 PHILIPS / FEI XL 30 #293764144 待售

PHILIPS/FEI XL 30掃描電子顯微鏡（SEM）是一種先進的工具，用於對各種表面過程進行成像，直至納米級。它提供了經過清洗、濺射塗層或進一步處理以使其可見的樣品的卓越分辨率圖像。此工具的一個重要特點是,它專為工業和研究環境而設計,為各種成像應用程序提供了靈活性。該儀器能在較高的景深下實現亞納米分辨率。它配備了一個高性能的二次電子探測器，使表面特征的清晰成像。EDX功能可使用可選的EUROSTEM II探測器進行全光譜X射線元素分析。這種檢測器的使用還允許對材料如元素組成、結晶度和晶格參數進行精確的表征。快速掃描模式和快速偏轉線圈進一步增強了FEI XL 30的功能。這樣可以在不到8秒的時間內高速掃描10 cm x 10 cm的區域。此外，當需要對多個區域同時成像時，儀器可以減少較長的掃描時間。PHILIPS XL30 SEM最強大的功能之一是能夠在短時間內從大面積收集數據。精細的機械設備可實現精確的采樣和舞臺運動,以及具有寬視野的高速成像。顯微鏡可以容納的樣本量範圍因工作距離大而進一步擴大。XL30 SEM在先進材料分析中也起著重要作用.它配備了一個EDS檢測器，能夠在特征的邊緣進行元素分析，以極好的信噪比提供高度準確的結果。此外，該儀器還配備了許多自動化工具，如自動邊緣檢測和特征計數，以提供高效、準確的數據收集和分析。綜上所述,PHILIPS XL 30 SEM是一種高度先進的工具,用於成像和分析到納米級的表面過程。其廣泛的功能,包括高分辨率成像、元素分析、快速映射和自動化功能,使其成為研究和工業應用的理想選擇。