二手 PHILIPS / FEI XL 30 #293771293 待售

PHILIPS/FEI XL 30是一種掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於從納米粒子到大型結構等多種材料中的表面和界面的高分辨率成像和分析。此SEM能夠以高吞吐量成像,從而使詳細圖像的分辨率降至2nm。FEI XL 30采用自動對焦設備和光束對準,可實現最高質量的成像.該SEM利用低加速度電壓透鏡提高用戶安全性，並利用電子束在高真空環境中成像。柱內二次電子檢測器產生出色的對比度和圖像細節。PHILIPS XL30具有自動化的多級系統,可提供高吞吐量的樣品分析和處理功能。通過操縱光束和采樣階段，可以在單個運行中收集各種數據，包括定量元素映射和形態特征。它還具有一個能量色散X射線（EDX）光譜儀，利用反向散射的電子產生一個晶體結構的光譜和一個專用的電子反向散射衍射（EBSD）檢測器來測量峰值強度。PHILIPS/FEI XL30能夠以多種模式成像,例如明亮場、暗場和差分對比度。該SEM配備了獨特的超壓裝置，用於樣品通風，防止樣品汙染物進入高真空環境。它還包括用於選擇和處理圖像的高級導航機器。樣品放置在真空室中，對樣品環境進行操作，以創造所需的成像條件。FEI XL30還包含一個圖像捕獲工具,用於直接和遠程控制SEM。映像捕獲資產記錄並處理來自SEM的每個映像,從而可以輕松查看、存檔和共享結果。總體而言，XL 30是一種功能強大的掃描電子顯微鏡，用於對材料進行詳細的成像和分析，讓用戶對自己的樣品有更深入的了解。此SEM具有自動化的多級模型和先進的導航設備等集成功能,可提供高效且經濟高效的分析解決方案。