二手 PHILIPS / FEI XL 30 #293799305 待售

PHILIPS/FEI XL 30是一種掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於光樣本成像和分析應用。它特別適合於表面地形、樣品組成和紙張表面結構的成像和分析。FEI XL 30是變壓SEM，最小工作距離30 mm，最大工作距離200 mm。它在3 keV時具有1.2nm的分辨率,帶有數字信號處理器（DSP）,每像素的最小電子為8。PHILIPS XL30 SEM基於FEI XL系列平臺,並結合了幾項重大進展。它具有增強的自動化智能縫合模式,可實現連續、可重復的視場和機動化的景深調整。XL 30還具有先進的用戶友好軟件,包括雙2D成像、3D斷層掃描重建、光譜映射以及用於定量元素分析的能量色散X射線分析。飛利浦XL 30搭載了4百萬像素分辨率的LMIS1 CCD攝像頭，可產生高質量的圖像。根據您使用的應用程序,SEM能夠生成50 nm到25 mm的圖像。示例環境模塊提供了一系列可定制的運營商,包括SEM支架和可自動化的示例階段。其他值得註意的功能包括用戶友好的圖形用戶界面（GUI）,它具有用於多光束成像的四變量設計、自動圖像對齊、可變樣本傾斜和舞臺掃描、可變景深和可變工作距離。可變壓力SEM在低壓下提供穩定的電子束，允許最小電子束彈跳和更好的非導電樣品成像。XL30 SEM是一種功能強大但用戶友好的工具,可提供快速可靠的數據。其先進的特性使其適合眾多的分析和成像應用，包括樣本映射、表面地形、粒度/形狀分析、樣本組成和結構、深度剖析和元素分析。PHILIPS/FEI XL30 SEM為大多數實驗室應用提供了必要的靈活性和性能,為用戶提供了進行可靠研究的多功能性和信心。