二手 PHILIPS / FEI XL 30 #293805730 待售

掃描電子顯微鏡是成像和分析樣品結構和元素組成的首要工具。PHILIPS/FEI XL 30也不例外--一款行業領先的分析掃描電子顯微鏡（SEM），配備了野外發射槍，在分辨率、性能和分析能力方面提供了明顯優勢。FEI XL 30具有30 kV的最大加速度電壓和300 nm的光斑尺寸,而樣品室具有高達70度的偏轉角。這允許用戶訪問難以觸及的物料層,從而實現對亞微米特征的更高分辨率分析和自上而下的成像。PHILIPS XL30還包括一把鈦基槍，使用增強的液態金屬離子源（LMIS）將光譜整合到SEM中。這促進了能量色散光譜學（EDS/EDX），允許對各種元素進行定性、半定量和定量的元素分配。PHILIPS/FEI的高級軟件包和用戶友好的圖形用戶界面XL30使其操作簡單,系統的靈活性確保最大限度地利用各種分析功能。該系統還提供範圍廣泛的軟件包，從自動粒子分析到光譜學、自動模式識別到自動定向；所有這些都可以適應特定的需求。這確保了XL30能夠為樣品制備、成像和分析提供最佳解決方案。此外，FEI XL30包括一系列探測器，包括一個反向散射電子探測器（BED）和一個二次電子探測器（SED）。BED經過優化,可提供與各種樣品形態的對比,而SED提供了一系列同時的對比機制,以最大限度地檢測樣品特征。綜上所述,XL 30是一種精密、通用但用戶友好的掃描電子顯微鏡.它提供了一套連接到高級檢測系統和多用途樣本持有者的復雜軟件,使其成為滿足最先進分析需求的高性能工具。